F1 測(cè)厚儀探頭
上海雙旭 F1 測(cè)厚儀探頭
產(chǎn)品參數(shù)
型號(hào)：F1（適配雙旭系列超聲波/涂層測(cè)厚儀）
測(cè)量原理：超聲波脈沖反射法（支持多種耦合介質(zhì)）
測(cè)量范圍：0.75mm ~ 300mm（鋼材質(zhì)，依探頭頻率及被測(cè)材料聲速而定）
頻率：5MHz（標(biāo)準(zhǔn)型）/ 10MHz（可選高頻型）
探頭直徑：Φ11mm（標(biāo)準(zhǔn)型）/ Φ6mm（微型可選）
最小曲率半徑：凸面≥5mm / 凹面≥25mm（標(biāo)準(zhǔn)型）
接觸溫度：-10℃ ~ +60℃（連續(xù)工作），短時(shí)峰值≤80℃
接口類(lèi)型：LEMO或定制連接器，與雙旭主機(jī)直插兼容
防護(hù)等級(jí)：IP65（探頭外殼防塵防濺水）
電纜長(zhǎng)度：標(biāo)配1m，可定制至5m
適用材料：金屬、塑料、玻璃、陶瓷等均勻介質(zhì)（需預(yù)設(shè)或自動(dòng)識(shí)別聲速）
功能特點(diǎn)
高靈敏度晶片，回波穩(wěn)定，適合復(fù)雜表面測(cè)量。
小直徑探頭可進(jìn)入狹窄空間及小曲率工件檢測(cè)。
耐磨硬質(zhì)合金或陶瓷保護(hù)面，延長(zhǎng)使用壽命。
兼容雙旭主流測(cè)厚儀主機(jī)，無(wú)需額外校準(zhǔn)即可快速切換。
支持單點(diǎn)測(cè)量與連續(xù)掃描模式，數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)反饋。
使用注意事項(xiàng)
使用前確保探頭與主機(jī)接口清潔無(wú)污物，避免信號(hào)衰減或接觸不良。
耦合劑必須均勻涂覆在探頭與被測(cè)面之間，保證聲波有效傳導(dǎo)，勿使用含顆�；蚋g性耦合劑。
測(cè)量時(shí)應(yīng)保持探頭垂直并施加恒定壓力，避免傾斜造成讀數(shù)偏差或晶片損傷。
對(duì)曲面或粗糙表面，應(yīng)選取合適曲率規(guī)格探頭或增加耦合時(shí)間，必要時(shí)進(jìn)行多點(diǎn)校正。
禁止在強(qiáng)電磁干擾、高溫蒸汽、強(qiáng)酸強(qiáng)堿環(huán)境直接使用，超出溫限需加裝冷卻或隔離裝置。
不使用時(shí)將探頭妥善存放于干燥盒內(nèi)，防止碰撞和潮濕導(dǎo)致性能下降。
定期校驗(yàn)探頭零點(diǎn)及聲速參數(shù)，尤其更換不同材質(zhì)或批量測(cè)量前需確認(rèn)精度。
電纜不得強(qiáng)力拉扯或彎折成銳角，避免內(nèi)部斷線影響數(shù)據(jù)傳輸。 |
