3543 平板探測(cè)器
上海雙旭3543 平板探測(cè)器
產(chǎn)品概述
上海雙旭3543平板探測(cè)器為數(shù)字化X射線成像核心部件，基于非晶硅/光電二極管陣列結(jié)構(gòu)，直接將X射線轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)，適用于醫(yī)療影像、工業(yè)無(wú)損檢測(cè)及科研領(lǐng)域。具備高分辨率、快速響應(yīng)與穩(wěn)定成像性能，可無(wú)縫集成于DR系統(tǒng)或獨(dú)立作為圖像采集終端。
產(chǎn)品參數(shù)
- 有效探測(cè)面積：43 cm × 35 cm（17" × 14"）
- 像素矩陣：3072 × 2560
- 像素尺寸：139 μm
- 極限空間分辨率：≥3.6 lp/mm
- 灰階深度：16 bit（65536級(jí)灰度）
- 幀率：最高30 fps（全幅采集）
- X射線能量范圍：40 kV – 150 kV（醫(yī)療常用范圍），最大可至225 kV（工業(yè)模式）
- 接口類型：Gigabit Ethernet / USB 3.0（可選配無(wú)線模塊）
- A/D轉(zhuǎn)換：16 bit逐點(diǎn)轉(zhuǎn)換
- 讀出方式：卷簾快門（全局同步讀出可選）
- 防護(hù)等級(jí)：IP54（防塵防濺）
- 工作溫度：5°C – 40°C
- 存儲(chǔ)溫度：-20°C – 60°C
- 供電：DC 12 V / 24 W（典型功耗）
- 重量：約4.8 kg
- 外形尺寸（含外殼）：約470 mm × 390 mm × 25 mm
功能特性
支持實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)成像與靜態(tài)高分辨采集；具備自動(dòng)曝光檢測(cè)與壞點(diǎn)校正算法；低劑量成像優(yōu)化，減少輻射暴露；兼容DICOM 3.0標(biāo)準(zhǔn)，可直接接入醫(yī)院PACS系統(tǒng)；工業(yè)模式下可進(jìn)行缺陷檢測(cè)、焊縫評(píng)估等應(yīng)用的高精度掃描。
使用注意事項(xiàng)
- 避免強(qiáng)烈機(jī)械沖擊與擠壓，防止閃爍體層或傳感器陣列損傷。
- 不可長(zhǎng)時(shí)間暴露于直射日光或強(qiáng)紫外環(huán)境，以防光敏元件老化。
- 清潔時(shí)僅用干燥軟布或70%異丙醇輕輕擦拭表面，嚴(yán)禁液體滲入接縫。
- 在高于規(guī)定X射線能量范圍使用會(huì)縮短壽命并導(dǎo)致成像異常，需嚴(yán)格按額定參數(shù)設(shè)置。
- 高溫高濕環(huán)境下應(yīng)減少連續(xù)工作時(shí)間，防止內(nèi)部結(jié)露影響電路穩(wěn)定性。
- 運(yùn)輸時(shí)需固定并使用原廠防震包裝，避免傾斜與倒置。
- 接口線纜須按規(guī)定扭矩鎖緊，避免松動(dòng)造成數(shù)據(jù)丟包或通信中斷。
- 長(zhǎng)期停用時(shí)應(yīng)置于干燥低溫環(huán)境，建議每三個(gè)月通電自檢一次。
- 更換或維修必須由廠家授權(quán)人員進(jìn)行，私自拆解將失去保修資格。
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