QNIX4500 涂層測(cè)厚儀

上海雙旭QNIX4500涂層測(cè)厚儀

產(chǎn)品概述

QNIX4500是一款磁性、渦流兩用型涂層測(cè)厚儀，適用于精確測(cè)量鐵基及非鐵基體上的涂層、鍍層厚度。

產(chǎn)品參數(shù)

• 測(cè)量原理：磁性感應(yīng)（鐵基）/渦流（非鐵基）
• 測(cè)量范圍：0~2000μm（約0~80mil）
• 分辨率：0.1μm（0~99.9μm），1μm（100μm以上）
• 測(cè)量精度：±（1~3%讀數(shù)+1μm）
• 最小曲率：凸5mm，凹25mm
• 最小測(cè)量面積：直徑10mm
• 最薄基底厚度：鐵基0.2mm，非鐵基0.05mm
• 校準(zhǔn)方式：零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)
• 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：通常具備分組存儲(chǔ)功能（具體容量需參考說明書）
• 電源：2節(jié)AA電池
• 顯示：LCD數(shù)字顯示
• 工作溫度：0℃~40℃

使用注意事項(xiàng)

• 校準(zhǔn)：使用前必須在與待測(cè)工件相同材質(zhì)、相同表面粗糙度的無涂層基體上進(jìn)行校準(zhǔn)，測(cè)量不同基體或涂層類型需重新校準(zhǔn)。
• 基體影響：基體金屬的厚度、磁性、導(dǎo)電性及曲率會(huì)影響測(cè)量結(jié)果，需確保滿足儀器要求的最小厚度和曲率。
• 表面清潔：測(cè)量前必須清除待測(cè)表面的灰塵、油污、銹跡及附著物，確保探頭與涂層表面垂直、緊密接觸。
• 邊緣效應(yīng)：避免在靠近工件邊緣、內(nèi)角或狹窄區(qū)域測(cè)量，一般需保持距離邊緣至少5mm。
• 環(huán)境干擾：強(qiáng)磁場(chǎng)、強(qiáng)電場(chǎng)環(huán)境可能干擾儀器正常工作，應(yīng)避開此類環(huán)境。
• 探頭保護(hù)：測(cè)量時(shí)輕壓探頭，避免用力過猛或沖擊損壞探頭寶石觸點(diǎn)。使用后清潔探頭并蓋上保護(hù)蓋。
• 定期驗(yàn)證：使用過程中應(yīng)定期用標(biāo)準(zhǔn)片驗(yàn)證儀器精度，確保測(cè)量數(shù)據(jù)可靠。
• 電池管理：長(zhǎng)期不使用應(yīng)取出電池，防止電池漏液損壞儀器。

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