HPS2524 精密方塊電阻測(cè)試儀

上海雙旭HPS2524 精密方塊電阻測(cè)試儀

產(chǎn)品概述

HPS2524是一款用于測(cè)量半導(dǎo)體材料、薄膜、導(dǎo)電涂層等樣品方塊電阻（薄層電阻）的精密測(cè)試儀器。它采用四探針?lè)�，具有高精度、高穩(wěn)定性和易操作的特點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于科研、質(zhì)量控制和工業(yè)生產(chǎn)領(lǐng)域。

產(chǎn)品參數(shù)

• 測(cè)量范圍： 0.1 mΩ/□ ~ 100 MΩ/□（具體量程分檔）
• 基本準(zhǔn)確度： ±0.1% ~ ±0.3%（視量程而定）
• 測(cè)試電流： 多檔可編程電流源，范圍通常為1μA ~ 100mA
• 顯示方式： 高亮度LED或LCD數(shù)字顯示
• 探針配置： 標(biāo)配四探針測(cè)試架，探針間距通常為1mm（可定制）
• 測(cè)試模式： 方塊電阻（Rs）、電阻率（ρ）、電導(dǎo)率（σ）
• 樣品尺寸： 兼容不同尺寸，最大支持直徑或邊長(zhǎng)通常≥30mm
• 接口： RS-232或USB接口，用于數(shù)據(jù)輸出和遠(yuǎn)程控制
• 電源： AC 220V ±10%，50/60Hz
• 工作環(huán)境： 溫度 10℃ ~ 30℃，濕度 ≤80% RH

使用注意事項(xiàng)

• 樣品準(zhǔn)備： 待測(cè)樣品表面應(yīng)清潔、平整、無(wú)氧化層或污染物，以確保探針接觸良好。
• 探針維護(hù)： 定期檢查探針尖端的磨損和清潔度，避免因探針問(wèn)題導(dǎo)致測(cè)量誤差。測(cè)試后應(yīng)抬起探針架，防止探針長(zhǎng)期受壓變形。
• 校準(zhǔn)： 儀器需定期使用標(biāo)準(zhǔn)電阻片進(jìn)行校準(zhǔn)，以確保測(cè)量準(zhǔn)確性。在更換量程或重要測(cè)量前建議驗(yàn)證校準(zhǔn)狀態(tài)。
• 操作順序： 開(kāi)機(jī)后應(yīng)預(yù)熱10-15分鐘，待儀器穩(wěn)定后再進(jìn)行測(cè)量。放置樣品并確保探針均勻接觸后，再啟動(dòng)測(cè)量。
• 環(huán)境要求： 應(yīng)在無(wú)強(qiáng)電磁干擾、振動(dòng)小、溫濕度適宜的環(huán)境中使用。避免在灰塵過(guò)多或腐蝕性氣體環(huán)境中操作。
• 安全警告： 儀器接地必須可靠，防止靜電或漏電。測(cè)試時(shí)請(qǐng)勿觸摸樣品或探針的金屬部分。更換樣品前請(qǐng)確保測(cè)試信號(hào)已關(guān)閉。
• 數(shù)據(jù)解讀： 對(duì)于非均勻薄膜或小尺寸樣品，四探針?lè)�可能存在邊緣效�?yīng)，需根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)方法進(jìn)行修正。
• 存儲(chǔ)： 長(zhǎng)期不使用時(shí)，應(yīng)斷開(kāi)電源，將儀器和探針架置于干燥清潔的環(huán)境中，并蓋上防塵罩。

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