涂層測(cè)厚儀MikroTest NiFe50
上海雙旭涂層測(cè)厚儀MikroTest NiFe50
產(chǎn)品參數(shù)
測(cè)量原理：磁性感應(yīng)法（用于測(cè)量非磁性涂層在磁性基體上的厚度，如鋼鐵上的油漆、塑料、搪瓷等）。
測(cè)量范圍：0~50μm（典型范圍，具體型號(hào)可能略有差異）。
精度：±(1~3%) 或 ±1μm（以規(guī)格書為準(zhǔn)）。
最小曲率半徑：凸面5mm，凹面25mm（確保在曲面測(cè)量的準(zhǔn)確性）。
最小測(cè)量面積：直徑約20mm。
最小基體厚度：約0.2mm。
探頭類型：固定式或分體式磁性探頭。
顯示方式：模擬指針式表頭。
電源：通常為干電池。
工作溫度：通常為0°C ~ 40°C。
使用注意事項(xiàng)
基體要求：僅適用于磁性金屬（如鋼、鐵）基體上的非磁性涂層測(cè)量。測(cè)量非磁性金屬（如鋁、銅）上的涂層需選用渦流原理儀器。
校準(zhǔn)：使用前必須在與被測(cè)件相同材質(zhì)和曲率的無涂層基體上進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)，并在已知厚度的標(biāo)準(zhǔn)片上校準(zhǔn)量程。
測(cè)量壓力：測(cè)量時(shí)探頭應(yīng)垂直、平穩(wěn)地接觸涂層表面，避免施加過大壓力導(dǎo)致涂層變形或探頭磨損。
表面清潔：確保測(cè)量表面清潔，無灰塵、油污、銹蝕等雜質(zhì)，以免影響測(cè)量精度。
邊緣效應(yīng)：測(cè)量點(diǎn)應(yīng)遠(yuǎn)離邊緣、孔洞或劇烈彎曲處，一般需保持距離邊緣至少5mm以上。
溫度影響：避免在極端溫度或劇烈溫度變化的環(huán)境中使用，以免影響儀器精度和穩(wěn)定性。
磁場(chǎng)干擾：遠(yuǎn)離強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境（如大型電機(jī)、變壓器），防止干擾磁性測(cè)量原理導(dǎo)致讀數(shù)錯(cuò)誤。
維護(hù)保養(yǎng)：定期清潔探頭表面，避免撞擊或摔落。長(zhǎng)期不用時(shí)應(yīng)取出電池。 |
