涂層測(cè)厚儀MiniTest7400 主機(jī)
上海雙旭涂層測(cè)厚儀 MiniTest 7400 主機(jī)
產(chǎn)品參數(shù)
測(cè)量原理：磁感應(yīng)/渦流一體式探頭（自動(dòng)識(shí)別基體）
測(cè)量范圍：0~2000μm（取決于探頭和基體材料）
分辨率：0.1μm (0~99.9μm), 1μm (100μm以上)
測(cè)量精度：±（1~3%讀數(shù)+零點(diǎn)漂移），具體取決于測(cè)量條件
基體識(shí)別：自動(dòng)識(shí)別鐵基（Fe）或非鐵基（NFe）
校準(zhǔn)方式：零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)、多點(diǎn)校準(zhǔn)
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：通�？纱鎯�(chǔ)數(shù)千組測(cè)量數(shù)據(jù)（具體容量需確認(rèn)）
顯示：背光液晶顯示屏
輸出接口：通常配備USB或RS232接口，用于數(shù)據(jù)傳輸
電源：可充電鋰電池
工作溫度：通常為-10℃ ~ +60℃
主機(jī)尺寸與重量：緊湊型設(shè)計(jì)，具體尺寸重量需參考官方數(shù)據(jù)表
使用注意事項(xiàng)
校準(zhǔn)：使用前必須在與待測(cè)工件相同材質(zhì)和曲率的無(wú)涂層基體上進(jìn)行校準(zhǔn)。測(cè)量不同基體或形狀時(shí)需重新校準(zhǔn)。
基體影響：基體材料的磁性、電導(dǎo)率、厚度、曲率及表面粗糙度會(huì)顯著影響測(cè)量精度。對(duì)于薄基體、小部件或強(qiáng)曲率表面，需特別處理。
探頭保護(hù)：測(cè)量時(shí)確保探頭與涂層表面垂直，并避免施加過(guò)大壓力或磨損探頭。定期清潔探頭表面。
環(huán)境因素：避免在強(qiáng)磁場(chǎng)、強(qiáng)電場(chǎng)或極端溫度、濕度環(huán)境下使用。防止儀器受到劇烈震動(dòng)或撞擊。
測(cè)量操作：對(duì)于不均勻涂層，應(yīng)在不同位置進(jìn)行多次測(cè)量取平均值。確保測(cè)量點(diǎn)表面清潔，無(wú)灰塵、油污或氧化物。
電源管理：使用指定充電器，避免過(guò)度放電。長(zhǎng)期不用時(shí)應(yīng)定期充電維護(hù)。
數(shù)據(jù)解讀：對(duì)于多層涂層或特殊涂層（如非導(dǎo)電、非磁性），該儀器可能不適用，需確認(rèn)其測(cè)量原理的兼容性。 |
