涂層測(cè)厚儀MikroTest S20
上海雙旭涂層測(cè)厚儀 MikroTest S20
產(chǎn)品參數(shù)
測(cè)量原理：磁性感應(yīng)/渦流原理（雙功能探頭，自動(dòng)識(shí)別基體）
測(cè)量范圍：0~2000μm（視探頭和基材而定）
分辨率：0.1μm / 1μm（根據(jù)量程自動(dòng)切換）
精度：±（1~3%讀數(shù)+1μm）
最小曲率半徑：凸面：1.5mm，凹面：6mm（取決于探頭）
最小測(cè)量面積：直徑6mm
基體最小厚度：0.2mm（Fe），0.05mm（NFe）
顯示：LCD液晶顯示屏
單位：μm / mil（可切換）
校準(zhǔn)：零點(diǎn)校準(zhǔn)和多點(diǎn)校準(zhǔn)
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：通常具備基本數(shù)據(jù)存儲(chǔ)和統(tǒng)計(jì)功能（如平均值、最大值、最小值等）
電源：2節(jié)AA電池
工作溫度：0℃ ~ 40℃
尺寸與重量：主機(jī)緊湊輕便，具體尺寸重量需參考官方數(shù)據(jù)表。
使用注意事項(xiàng)
校準(zhǔn)：測(cè)量前必須在與待測(cè)工件相同材質(zhì)和表面狀態(tài)的基體上進(jìn)行校準(zhǔn)，使用隨儀器提供的標(biāo)準(zhǔn)片。
基體影響：基體材料的電磁特性、厚度、曲率及表面粗糙度會(huì)顯著影響測(cè)量精度，需確保符合儀器要求的最小基體厚度和曲率。
表面清潔：測(cè)量前必須徹底清潔待測(cè)表面，去除油污、灰塵、氧化皮等雜質(zhì)。
探頭放置：測(cè)量時(shí)探頭需垂直于被測(cè)表面，并保持穩(wěn)定、壓力均勻，避免傾斜或晃動(dòng)。
邊緣效應(yīng)：測(cè)量點(diǎn)應(yīng)遠(yuǎn)離邊緣、孔洞或劇烈彎曲處，一般需保持距離邊緣至少5mm以上。
溫度穩(wěn)定性：避免在劇烈溫度變化的環(huán)境中使用，儀器和被測(cè)物應(yīng)處于熱平衡狀態(tài)。
干擾：強(qiáng)電磁場(chǎng)環(huán)境可能干擾儀器正常工作，應(yīng)避開此類區(qū)域。
維護(hù)：保持探頭清潔，避免撞擊、刮擦。長期不用時(shí)應(yīng)取出電池。
應(yīng)用限制：不適用于導(dǎo)磁或?qū)щ娦詷O差的特殊涂層（如陶瓷類非導(dǎo)電涂層），且不能用于多層復(fù)合涂層的分層測(cè)量。 |
