CX4-430 磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)試片
上海雙旭CX4-430磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)試片
產(chǎn)品概述
CX4-430型標(biāo)準(zhǔn)試片是磁粉探傷中用于系統(tǒng)性能校驗(yàn)與靈敏度評(píng)價(jià)的關(guān)鍵工具。該試片符合相關(guān)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)（如GB/T 23907），用于驗(yàn)證磁粉探傷設(shè)備、磁化方法、磁懸液性能及操作工藝的綜合靈敏度，確保探傷結(jié)果可靠。
產(chǎn)品參數(shù)
- 型號(hào)：CX4-430
- 材料：純鐵（DT4系列或等效低碳鋼）
- 厚度：約100μm（常見規(guī)格，具體以實(shí)物為準(zhǔn)）
- 人工缺陷形式：圓形刻槽（“+”字交叉線中心為圓形）
- 關(guān)鍵標(biāo)識(shí)：“4”代表槽深約4μm，“30”代表圓形缺陷直徑為Φ30mm
- 表面狀態(tài)：一面經(jīng)電鍍（如鍍鋅）保護(hù)，另一面為裸露的純鐵基材
- 應(yīng)用磁化方法：適用于連續(xù)法磁粉探傷（通電或施加磁懸液的同時(shí)進(jìn)行磁化）
- 靈敏度等級(jí)：中等靈敏度（槽深4μm級(jí)）
使用注意事項(xiàng)
- 試片選擇：根據(jù)檢測(cè)靈敏度要求（高、中、低）選擇對(duì)應(yīng)槽深（如15/30/60μm）的試片，CX4-430屬常用中靈敏度試片。
- 粘貼要求：使用前需清潔工件表面（與試片接觸區(qū)域），將試片無(wú)鍍層的一面緊貼工件，并用膠帶緊密固定，確保完全貼合無(wú)氣隙。
- 磁化操作：按正常探傷工藝對(duì)貼有試片的工件進(jìn)行磁化并施加磁懸液（濕法）。磁化方向應(yīng)垂直于試片上“+”字刻槽的某一條線，以清晰顯示圓形刻槽磁痕為佳。
- 結(jié)果判讀：磁化后，試片上的圓形刻槽應(yīng)能形成清晰、連續(xù)的磁痕顯示。若顯示不完整或模糊，則表明系統(tǒng)靈敏度不足，需檢查設(shè)備、磁化規(guī)范、磁懸液濃度或操作方法。
- 維護(hù)與保養(yǎng)：試片為精密消耗品，使用后應(yīng)清潔、干燥，防止銹蝕和機(jī)械損傷。避免反復(fù)彎折或刮擦刻槽區(qū)域。失效或變形嚴(yán)重的試片應(yīng)及時(shí)更換。
- 適用范圍：主要用于校驗(yàn)連續(xù)法探傷工藝，不適用于剩磁法。僅用于工藝驗(yàn)證，不可替代標(biāo)準(zhǔn)缺陷試樣進(jìn)行設(shè)備校準(zhǔn)。
- 安全警告：操作時(shí)遵循磁粉探傷安全規(guī)程，防止觸電、灼傷及磁粉污染。
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