CX-230 磁粉探傷標準試片
上海雙旭CX-230 磁粉探傷標準試片
產(chǎn)品參數(shù)：
- 型號：CX-230
- 類型：磁粉探傷用A型靈敏度標準試片（ASTM E1444、GB/T 15822.1）
- 材質：高導磁率薄鋼片（厚度約0.05mm，尺寸30×15mm）
- 刻槽形式：人工刻制細槽（常見A1-7、C、D等規(guī)格可選，槽深微米級梯度）
- 表面狀態(tài)：鏡面拋光，無氧化層及劃痕
- 靈敏度等級：覆蓋低至高級別（對應槽寬/深度比例0.001~0.01）
- 適用磁場方向指示：刻槽與磁場方向垂直時顯示清晰磁痕
- 包裝：防氧化袋密封，附檢測證書及規(guī)格標識
- 工作溫度：-10℃~50℃（短期可耐60℃）
- 儲存要求：干燥避光環(huán)境，避免彎折與腐蝕介質接觸
產(chǎn)品介紹：
CX-230為上海雙旭針對磁粉探傷工藝驗證開發(fā)的標準試片，用于檢測磁化設備性能、磁懸液濃度及操作工藝有效性。通過刻槽在磁場中形成漏磁，吸附磁粉形成可視磁痕，直觀反映系統(tǒng)靈敏度水平。適用于濕法、干法及熒光/非熒光磁粉探傷場景，兼容交流、直流及復合磁化方式，是航空、航天、軌道交通、重型機械等領域無損檢測的必備校準工具。
使用注意事項：
- 使用前需檢查試片表面是否平整、無銹蝕或變形，刻槽邊緣完整無磨損；若有損傷立即停用并更換。
- 粘貼時應采用專用試片背膠或低粘度膠帶，確保與受檢面密貼無氣泡，避免磁場畸變導致磁痕失真。
- 磁化電流與時間須按工藝規(guī)范執(zhí)行，避免過磁化造成試片飽和或欠磁化無法顯影；建議先做預磁化試驗確認靈敏度。
- 磁懸液噴灑應均勻覆蓋試片區(qū)域，熒光磁粉探傷需保證暗室紫外線強度符合標準（≥1000μW/cm²）。
- 觀察磁痕應在磁化完成后盡快進行，防止剩磁衰減影響判讀；熒光磁痕觀察時間不超過5分鐘。
- 同一試片不宜反復使用超過推薦次數(shù)（一般≤20次），防止因刻槽堵塞或表面劣化降低靈敏度基準。
- 使用后應立即清潔試片表面殘留磁粉與油污，干燥后密封保存，避免受潮氧化或機械應力損傷。
- 不同靈敏度等級試片不得混用或替代，須按檢測要求選用對應刻槽規(guī)格。
- 嚴禁將試片用于強酸、強堿或有機溶劑清洗，防止材質腐蝕失效。
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