HPS5510 多通道方阻測試儀
上海雙旭 HPS5510 多通道方阻測試儀
產(chǎn)品參數(shù)
- 測量原理：四探針法（可切換二線/四線模式）
- 測試通道數(shù)：4通道同步獨立測量（可擴展至8通道）
- 方阻測量范圍：10⁻³ ~ 10⁸ Ω/□（自動量程）
- 電阻率測量范圍：10⁻⁵ ~ 10¹⁰ Ω·cm（依樣品厚度換算）
- 分辨率：0.01 mΩ/□（低阻段），1 mΩ/□（高阻段）
- 精度：±0.5%讀數(shù) ±2字（標準條件下）
- 電流源范圍：1 nA ~ 100 mA（軟件可調(diào)，恒流輸出）
- 電壓測量范圍：1 μV ~ 200 V（24位ADC采樣）
- 測量速度：單點≤300 ms，4通道全掃≤1.2 s
- 探針間距：標準1 mm（可定制0.5 / 2 mm間距夾具）
- 顯示方式：7寸彩色觸摸屏，實時曲線+數(shù)值雙顯
- 數(shù)據(jù)存儲：內(nèi)置4 GB存儲，支持U盤導出CSV/TXT格式
- 通訊接口：USB、RS485、以太網(wǎng)（可選配WiFi模塊）
- 電源要求：AC 220 V±10%，50/60 Hz，功耗≤50 W
- 工作環(huán)境：溫度15~30℃，濕度≤80% RH（無凝露）
- 外形尺寸：430×350×180 mm（主機），重量約8 kg
產(chǎn)品介紹
上海雙旭 HPS5510 為多通道方阻/電阻率快速檢測儀器，基于高精度恒流源與低噪聲電壓測量技術，采用四探針接觸法實現(xiàn)半導體材料、導電薄膜、金屬涂層等樣品的非破壞性電學性能測試。設備具備4通道并行采集能力，可在一次裝樣后完成多點或批量樣品掃描，顯著提升產(chǎn)線或實驗室檢測效率。內(nèi)置智能溫漂補償與自校準程序，適配不同厚度及形狀樣品，滿足光伏電池片、LED外延片、透明導電膜、功能陶瓷片等領域的精密測量需求。
儀器配備7寸工業(yè)觸控屏，操作邏輯直觀，支持單點手動測量、連續(xù)掃描、配方調(diào)用及數(shù)據(jù)實時繪圖。通訊接口豐富，可接入MES系統(tǒng)或遠程控制平臺，適合自動化產(chǎn)線集成。探針夾具模塊化設計，更換便捷，兼容硬質/柔性樣品表面接觸，降低人為誤差。
使用注意事項
- 探針與樣品表面須保持垂直且均勻接觸，避免傾斜導致測量值偏差或探針損壞。
- 樣品表面應清潔、平整、無氧化層或污染物，必要時用無水乙醇擦拭并干燥后再測。
- 嚴禁在潮濕、強電磁干擾或高溫環(huán)境（＞30℃）下長時間運行，防止電路漂移及探頭銹蝕。
- 使用前需執(zhí)行零點校準與標準電阻校驗，確保電流源和電壓測量鏈路準確。
- 高阻樣品測量時，注意屏蔽環(huán)境漏電流，可采用三同軸連接或縮短測試線長度。
- 更換探針夾具前務必斷電，防短路或靜電損傷前端放大電路。
- 電流源設定不得超過樣品耐受極限，防止過熱燒毀或改變材料特性。
- 長期停用需取出保險絲并覆蓋防塵罩，存放于干燥潔凈處。
- 非專業(yè)人員勿拆解主機外殼，內(nèi)部高壓區(qū)及靜電敏感元件存在安全風險。
- 軟件升級或參數(shù)修改應由授權工程師執(zhí)行，避免誤設量程引發(fā)過載保護觸發(fā)。
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