上海雙旭CX-430磁粉探傷標準試片
一、核心產品參數
上海雙旭CX-430磁粉探傷標準試片是符合磁粉探傷檢測規(guī)范的專用對比試片，核心參數如下：
二、產品用途
CX-430磁粉探傷標準試片主要用于磁粉探傷檢測系統(tǒng)的性能驗證與靈敏度校準，具體場景包括：驗證探傷設備的磁場強度是否達標，確認磁懸液的分散性與濃度是否符合要求，檢測工件表面的磁化效果，以及在批量探傷前確認檢測工藝的可靠性，避免因設備或工藝問題導致的漏檢、誤判。
三、使用注意事項
為確保試片的檢測準確性與使用壽命，使用過程中需注意以下事項：
- 試片安裝要求
四、產品優(yōu)勢
相較于普通標準試片，CX-430的優(yōu)勢在于采用高純度DT4C純鐵材質，磁特性穩(wěn)定且一致性強，缺陷槽加工精度更高，能在0.2T的弱磁場下清晰顯示磁痕；同時試片表面的保護膜有效避免了運輸與使用過程中的劃傷，延長了使用壽命，適合長期用于高精度磁粉探傷檢測場景。
