上海雙旭HPS5520多通道方阻測(cè)試儀
一、核心產(chǎn)品參數(shù)
HPS5520多通道方阻測(cè)試儀專(zhuān)為批量樣品的方阻測(cè)試場(chǎng)景設(shè)計(jì)，兼顧測(cè)試精度與效率，核心參數(shù)如下：
- 測(cè)試通道：8通道并行測(cè)試，支持批量樣品同時(shí)檢測(cè)，大幅提升測(cè)試效率
- 方阻測(cè)量范圍：0.001Ω/□ ~ 10^6Ω/□，覆蓋從低阻到高阻的各類(lèi)薄膜、涂層樣品
- 測(cè)試精度：±0.5%（典型值，在1Ω/□~10^4Ω/□量程內(nèi)），滿足精密材料檢測(cè)需求
- 測(cè)試電流：1μA ~ 100mA自適應(yīng)調(diào)節(jié)，針對(duì)不同阻值樣品匹配最優(yōu)測(cè)試電流，確保精度
- 顯示方式：7英寸觸控液晶屏，同時(shí)顯示8通道實(shí)時(shí)測(cè)試數(shù)據(jù)，支持?jǐn)?shù)據(jù)曲線可視化
- 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：內(nèi)置8GB存儲(chǔ)，可存儲(chǔ)≥10萬(wàn)條測(cè)試記錄，支持USB導(dǎo)出至電腦分析
- 測(cè)試模式：支持單次測(cè)試、連續(xù)測(cè)試、定時(shí)測(cè)試三種模式，適配不同場(chǎng)景需求
- 電極類(lèi)型：標(biāo)配四探針電極，支持定制特殊電極，兼容四探針測(cè)試法的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)
- 供電方式：AC 220V±10% 50/60Hz，或內(nèi)置鋰電池續(xù)航≥8小時(shí)，滿足實(shí)驗(yàn)室與現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試需求
二、產(chǎn)品特點(diǎn)
作為多通道方阻測(cè)試的專(zhuān)業(yè)設(shè)備，HPS5520在效率與實(shí)用性上具備顯著優(yōu)勢(shì)：
1. 多通道并行測(cè)試：8通道獨(dú)立控制，可同時(shí)檢測(cè)8個(gè)樣品，相比單通道測(cè)試儀效率提升8倍，適合工業(yè)化批量檢測(cè)場(chǎng)景，如半導(dǎo)體晶圓、光伏涂層、導(dǎo)電薄膜的批量篩選。
2. 智能電流調(diào)節(jié)：針對(duì)不同阻值的樣品，設(shè)備自動(dòng)匹配最小誤差的測(cè)試電流，避免小電流測(cè)低阻時(shí)精度不足、大電流測(cè)高阻時(shí)樣品過(guò)熱的問(wèn)題，確保全量程測(cè)試精度穩(wěn)定。
3. 數(shù)據(jù)管理便捷：支持測(cè)試數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)存儲(chǔ)、歷史數(shù)據(jù)查詢與導(dǎo)出，可生成標(biāo)準(zhǔn)化測(cè)試報(bào)告，對(duì)接實(shí)驗(yàn)室LIMS系統(tǒng)，滿足科研與生產(chǎn)的溯源需求。
4. 操作人性化：觸控屏設(shè)計(jì)簡(jiǎn)化操作流程，支持自定義測(cè)試參數(shù)保存，內(nèi)置多種測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)模板，新手可快速上手使用。
三、使用注意事項(xiàng)
為確保測(cè)試精度與設(shè)備壽命，使用過(guò)程中需注意以下事項(xiàng)：
1. 電極維護(hù)：四探針電極的針尖需保持清潔、無(wú)磨損，使用前用無(wú)水乙醇擦拭針尖，避免污染樣品；定期檢查針尖間距，若間距偏移需重新校準(zhǔn)，否則會(huì)影響測(cè)試精度。
2. 樣品要求：測(cè)試樣品表面需平整、無(wú)氧化層與污染物，若樣品表面不平整，建議先拋光處理；樣品尺寸需大于電極探針間距的5倍以上，避免邊緣效應(yīng)影響結(jié)果，小樣品需使用專(zhuān)用夾具固定。
3. 環(huán)境控制：避免在強(qiáng)電磁干擾環(huán)境（如靠近大型電機(jī)、高頻設(shè)備）中測(cè)試，電磁干擾會(huì)導(dǎo)致數(shù)據(jù)波動(dòng)；測(cè)試環(huán)境溫度建議控制在20℃±5℃，濕度≤60%，溫度濕度劇烈變化時(shí)，需預(yù)熱設(shè)備30分鐘后再測(cè)試。
4. 量程適配：測(cè)試前預(yù)估樣品方阻范圍，手動(dòng)選擇對(duì)應(yīng)量程（或開(kāi)啟自動(dòng)量程），避免超量程測(cè)試導(dǎo)致數(shù)據(jù)誤差，當(dāng)屏幕顯示"OVER"時(shí)，需及時(shí)調(diào)整至更大量程。
5. 校準(zhǔn)規(guī)范：每半年需使用標(biāo)準(zhǔn)電阻片對(duì)設(shè)備進(jìn)行校準(zhǔn)，校準(zhǔn)過(guò)程嚴(yán)格按照操作手冊(cè)步驟執(zhí)行，確保測(cè)試數(shù)據(jù)的溯源性；若設(shè)備搬運(yùn)或摔碰后，需重新校準(zhǔn)再使用。
6. 電極壓力控制：測(cè)試時(shí)電極針尖與樣品的壓力需均勻（建議壓力控制在0.5-1N），壓力過(guò)大會(huì)損傷樣品與針尖，壓力過(guò)小會(huì)導(dǎo)致接觸電阻過(guò)大，影響測(cè)試精度，建議使用設(shè)備標(biāo)配的壓力調(diào)節(jié)裝置。
7. 清潔與存儲(chǔ)：使用后及時(shí)清潔電極與機(jī)身，避免樣品殘留腐蝕設(shè)備；長(zhǎng)期存儲(chǔ)時(shí)，需將設(shè)備放置在干燥、通風(fēng)、無(wú)腐蝕氣體的環(huán)境中，每月開(kāi)機(jī)通電30分鐘，防止元器件老化。
